廣東常見(jiàn)zeta電位及納米粒度儀技術(shù)指導

技術(shù)優(yōu)勢1、PMT高靈敏度檢測器；2、可搭配不同功率光源；3、雙列直插式電極和樣品池，可反復使用成千上萬(wàn)次；4、鈀電極；5、精確度高，接近樣品真實(shí)值；6、復合型算法：高斯（Gaussion）單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換；相位分析法（PALS)和頻譜分析法（FALS）自由切換；7、快速檢測，可以追溯歷史數據；8、結果數據以多種形式和格式呈現；9、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求；10、無(wú)需校準；11、模塊化設計便于維護和升級；（1）可自動(dòng)稀釋模塊（選配）；（2）搭配多角度檢測器（選配）；（3）自動(dòng)進(jìn)樣系統（選配）；Nicomp 380 系列納米激光粒度儀 專(zhuān)為復雜體系提供高精度粒度解析方案。廣東常見(jiàn)zeta電位及納米粒度儀技術(shù)指導

Nicomp多峰分布概念：基線(xiàn)調整自動(dòng)補償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp380系列儀器的兩個(gè)主要特點(diǎn)，Nicomp創(chuàng )始人DaveNicole很早就認識到傳統的動(dòng)態(tài)光散射理論只給出高斯模式的粒度分布，這和實(shí)踐生產(chǎn)生活中不相符，因為現實(shí)中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點(diǎn)都制約了納米粒度儀在實(shí)際生產(chǎn)生活中的使用。其開(kāi)創(chuàng )的Nicomp多峰分布理論，提高了動(dòng)態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。Nicomp多峰分布優(yōu)勢Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不只可以給出傳統的DLS系統的結果，更可以通過(guò)Nicomp多峰分布模式體現樣品的真實(shí)情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設計，Nicomp納米激光粒度儀可以有效區分1:2的多分散體系。zeta電位及納米粒度儀售后服務(wù)技術(shù)優(yōu)勢：3、雙列直插式電極和樣品池，可反復使用成千上萬(wàn)次。

Nicomp多峰分布概念：基線(xiàn)調整自動(dòng)補償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp380系列儀器的兩個(gè)主要特點(diǎn)，Nicomp創(chuàng )始人DaveNicole很早就認識到傳統的動(dòng)態(tài)光散射理論只給出高斯模式的粒度分布，這和實(shí)踐生產(chǎn)生活中不相符，因為現實(shí)中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點(diǎn)都制約了納米粒度儀在實(shí)際生產(chǎn)生活中的使用。其開(kāi)創(chuàng )的Nicomp多峰分布理論，提高了動(dòng)態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。Nicomp多峰分布優(yōu)勢Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不只可以給出傳統的DLS系統的結果，更可以通過(guò)Nicomp多峰分布模式體現樣品的真實(shí)情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設計，Nicomp納米激光粒度儀可以有效區分1:2的多分散體系。

Zeta電勢電位原理1.什么是ZETA電勢電位：Zeta電位（Zetapotential）是指剪切面(ShearPlane)的電位，又叫電動(dòng)電位或電動(dòng)電勢（ζ-電位或ζ-電勢），是表征膠體分散系穩定性的重要指標。2.STERN雙電子層：膠核表面擁有一層離子，稱(chēng)為電位離子，電位離子通過(guò)靜電作用，把溶液中電荷相反的離子吸引到膠核周?chē)?，被吸引的離子稱(chēng)為反離子，越靠近膠核表面的地方反離子越密集，相反，越遠的地方反離子越稀疏，他們的電荷總量與電位離子相等并且符號相反。因此，整個(gè)膠團是處于電中性狀態(tài)，而膠核表面電勢是醉高的，根據定義Zeta電位即為膠核表面電勢。3.DLS散射系統如何測ZETA電位：目前測量ZETA電位的方法主要有電泳法、電滲法、流動(dòng)電位法以及超聲波法。NicompZ3000采用的是主流的電泳法測試ZETA。技術(shù)優(yōu)勢：11、模塊化設計便于維護和升級； （1）可自動(dòng)稀釋模塊（選配）。

產(chǎn)品優(yōu)勢：一、模塊化設計：Nicomp380納米激光粒度儀是全球率先在應用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)上的基礎上加入多模塊方法的先進(jìn)粒度儀。隨著(zhù)模塊的升級和增加，Nicomp380的功能體系越來(lái)越強大，可以用于各種復雜體系的檢測分析。二、自動(dòng)稀釋模塊（選配）：自動(dòng)稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來(lái)的誤差，且不需要人工不斷試錯來(lái)獲得合適的測試濃度，這縮短了測試者寶貴時(shí)間，且無(wú)需培訓，測試結果重現性好，誤差率＜1%。 三、380/HPLD大功率激光器：美國PSS粒度儀公司在開(kāi)發(fā)儀器的過(guò)程中，考慮到在各種極端實(shí)驗測試條件中不同的需求，對不同使用條件和環(huán)境配置了不同功率的激光發(fā)生器。大功率的激光器可以對極小的粒子也能搜集到足夠的散射信號，使得儀器能夠得到極小粒子的粒徑分布。同樣，大功率激光器在測試大粒子的時(shí)候同樣也很有幫助，比如在檢測右旋糖酐大分子時(shí)，折射率的特性會(huì )引起光散射強度不足。因為大功率激光器的特性，會(huì )彌補散射光強的不足和衰減，測試極其微小的微乳、表面活性劑膠束、蛋白質(zhì)以及其他大分子不再是一個(gè)苛刻的難題。即使沒(méi)有色譜分離，Nicomp380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度。技術(shù)優(yōu)勢：5、精確度高，接近樣品真實(shí)值。廣東如何zeta電位及納米粒度儀銷(xiāo)售電話(huà)

即使沒(méi)有色譜分離，Nicomp 380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度。廣東常見(jiàn)zeta電位及納米粒度儀技術(shù)指導

Zeta電勢電位原理1.什么是ZETA電勢電位：Zeta電位（Zetapotential）是指剪切面(ShearPlane)的電位，又叫電動(dòng)電位或電動(dòng)電勢（ζ-電位或ζ-電勢），是表征膠體分散系穩定性的重要指標。2.STERN雙電子層：膠核表面擁有一層離子，稱(chēng)為電位離子，電位離子通過(guò)靜電作用，把溶液中電荷相反的離子吸引到膠核周?chē)?，被吸引的離子稱(chēng)為反離子，越靠近膠核表面的地方反離子越密集，相反，越遠的地方反離子越稀疏，他們的電荷總量與電位離子相等并且符號相反。因此，整個(gè)膠團是處于電中性狀態(tài)，而膠核表面電勢是醉高的，根據定義Zeta電位即為膠核表面電勢。3.DLS散射系統如何測ZETA電位：目前測量ZETA電位的方法主要有電泳法、電滲法、流動(dòng)電位法以及超聲波法。NicompZ3000采用的是主流的電泳法測試ZETA。廣東常見(jiàn)zeta電位及納米粒度儀技術(shù)指導

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